摘要：針對(duì)瓷磚表面缺陷高精度高效率的檢測(cè)要求,提出一種基于局部方差加權(quán)信息熵的檢測(cè)算法。首先,將預(yù)處理之后的待檢測(cè)瓷磚圖像與標(biāo)準(zhǔn)瓷磚圖像進(jìn)行差分運(yùn)算,獲取瓷磚的差值圖像;然后,通過計(jì)算各像素點(diǎn)之間的局部方差值對(duì)缺陷區(qū)域的輪廓進(jìn)行初步提取;最后,采用加權(quán)信息熵對(duì)缺陷區(qū)域進(jìn)行修正,突出缺陷的細(xì)節(jié)信息,從而體現(xiàn)出精準(zhǔn)的瓷磚缺陷區(qū)域。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該算法適用于多種瓷磚表面缺陷的檢測(cè),缺陷識(shí)別率超過93%,誤檢率小于3%。與傳統(tǒng)缺陷檢測(cè)算法相比較,該算法在保留缺陷圖像的細(xì)節(jié)信息和方便缺陷檢測(cè)方面都有顯著的提高,而且對(duì)低質(zhì)量瓷磚圖像的識(shí)別也能取得較好的效果。
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