摘要：傳統(tǒng)的控制圖多數(shù)是在已知過程分布的假設(shè)下構(gòu)建的,這種控制圖被稱為參數(shù)控制圖.然而,在實(shí)際應(yīng)用中,大多數(shù)過程因?yàn)槠鋽?shù)據(jù)的復(fù)雜性導(dǎo)致他們的精確分布往往難以確定.當(dāng)預(yù)先指定的參數(shù)分布無效時(shí),參數(shù)控制圖的結(jié)果將不再可靠.為了解決這個(gè)問題,通常考慮非參數(shù)控制圖,因?yàn)榉菂?shù)控制圖比參數(shù)控制圖更加穩(wěn)健.近年來對(duì)非參數(shù)控制圖的研究越來越多,但大多數(shù)現(xiàn)有的控制圖主要是用于檢測(cè)位置參數(shù)的變化.本文提出一個(gè)新的非參數(shù)Shewhart控制圖(稱為L(zhǎng)OG圖),可用來檢測(cè)未知連續(xù)過程分布的尺度參數(shù).文中依據(jù)運(yùn)行長(zhǎng)度分布的均值,方差和分位數(shù),分析了LOG圖在過程受控和失控時(shí)的性能表現(xiàn),并與其他非參數(shù)控制圖進(jìn)行比較.模擬結(jié)果表明,LOG圖在不同過程分布下對(duì)檢測(cè)尺度參數(shù)的漂移都具有很好的性能.最后用一個(gè)實(shí)例來說明LOG圖在實(shí)際中的應(yīng)用.
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