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MC模擬稻米中Cd元素的XRF法檢測

摘要:對XRF法測定稻米中重金屬元素時X射線管激發(fā)條件和濾光片等測量條件的選擇作了理論分析;以Cd元素為例,討論其最優(yōu)方案,再通過MC軟件進(jìn)行蒙特卡羅模擬,計算出峰背比,得到各最優(yōu)值,驗證理論分析的準(zhǔn)確性。X射線管采用激發(fā)較強(qiáng)初級X射線的W靶,管壓模擬結(jié)果顯示,最佳值為80 kV,與理論估算相吻合;濾光片模擬結(jié)果顯示:Al、Fe和Cu濾光片的厚度分別在1 800,200和130μm時,峰背比最大,三者均與理論估算一致。通過比較,濾光片的最佳條件應(yīng)為200μm的Fe片。

關(guān)鍵詞:
  • 重金屬元素  
  • x射線熒光光譜法  
  • 靶材  
  • 管壓  
  • 濾光片  
作者:
張麗嬌; 湯彬; 李福生; 劉志鋒; 張雄杰; 張欣
單位:
東華理工大學(xué)核技術(shù)應(yīng)用教育部工程研究中心; 南昌330013; 江西省核資源與環(huán)境重點實驗室; 南昌330013
刊名:
核電子學(xué)與探測技術(shù)

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核電子學(xué)與探測技術(shù)雜志緊跟學(xué)術(shù)前沿,緊貼讀者,國內(nèi)刊號為:11-2016/TL。堅持指導(dǎo)性與實用性相結(jié)合的原則,創(chuàng)辦于1981年,雜志在全國同類期刊中發(fā)行數(shù)量名列前茅。