摘要：晶閘管作為一種成熟的電子開關(guān)型半導(dǎo)體器件被廣泛應(yīng)用。在應(yīng)用過程中,溫度對(duì)其電性能影響很大。這就需要器件在出廠測(cè)試中精確模擬實(shí)際使用的溫度量。提出一種更為合理既可解決溫度精確采溫又可做好高壓絕緣隔離的熱電阻補(bǔ)償測(cè)溫方法。試驗(yàn)結(jié)果表明該方法可有效達(dá)到晶閘管測(cè)試時(shí)對(duì)于溫度的要求條件。
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