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秩和非參數(shù)檢測器在雜波邊緣中的性能

摘要:人們常用Rohling教授提出的3種典型背景即均勻背景、多目標(biāo)和雜波邊緣來對檢測器的恒虛警率(CFAR)性能進(jìn)行衡量,但在現(xiàn)有的文獻(xiàn)中缺乏秩和(RS)非參數(shù)檢測器在雜波邊緣中虛警概率的解析表達(dá)式,缺乏RS檢測器與經(jīng)典的參量型恒虛警率(CFAR)檢測器在雜波邊緣中虛警控制能力的比較,這在理論研究上是不完整、不全面的。該文給出了RS檢測器在雜波邊緣中虛警概率的解析表達(dá)式,并比較了它與非相干積累單元平均(CA),選大(GO)和有序統(tǒng)計(OS)恒虛警方法在雜波邊緣中的虛警控制能力。可以看出,在強(qiáng)、弱雜波均為瑞利分布的情況下,RS檢測器在雜波邊緣的虛警控制能力處于非相干積累CA方法和非相干積累OS方法之間。但是當(dāng)長拖尾分布的非高斯雜波進(jìn)入?yún)⒖蓟皶r,非相干積累CA,GO和OS參量型檢測方法的虛警概率都產(chǎn)生了3個以上數(shù)量級的上升,且不能回到原始設(shè)定的虛警概率。而RS檢測器顯示出了非參量檢測器的優(yōu)勢,即當(dāng)雜波背景的分布類型發(fā)生變化后,它仍然可以保持虛警概率的恒定。

關(guān)鍵詞:
  • 雷達(dá)  
  • 目標(biāo)檢測  
  • 非參數(shù)  
  • 韋布爾分布  
  • 恒虛警率  
作者:
孟祥偉
單位:
煙臺南山學(xué)院電氣與電子工程系; 煙臺265713
刊名:
電子與信息學(xué)報

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